- 博为氦质谱检漏仪在电子元器件电芯电子封装密封性检测检漏的应用
31下载814浏览192.95K
- 电子级硫酸中超痕量元素的测定 电感耦合质谱仪NexION 5000 ICP-MS
18下载719浏览1.01M
- 电子级多晶硅中基体金属杂质含量的测定 LabMS 3000s 电感耦合等离子体质谱仪
15下载498浏览0.84M
- 硅片表面杂质元素含量的测定 LabMS 3000s 电感耦合等离子体质谱仪
9下载485浏览1.03M
- 半导体ZAO薄膜的光学性能测定 UV-8000型紫外-可见分光光度计
16下载460浏览0.05M
- 碳化硅材料中的铁、镁、钛、铝、钙、钠含量的测定 ICP电感耦合等离子体发射光谱仪
1下载462浏览1.36M
- 半导体工业四甲基氢氧化物(TMAH)杂质的测定 NexION 5000 ICP-MS
0下载427浏览1M
- CMP研磨液中的添加剂混合物的测定 沃特世Arc HPLC⾼效液相⾊谱系统
0下载397浏览0.99M
- 二氧化硅样品中砷、铅、汞、铬和镉元素含量的测定 原子吸收光谱法
0下载325浏览0.06M