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【仪器网 行业应用】碳化硅中微量元素分析主要采用原子吸收光谱法、电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-OES)法和电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)法。本文根据国家标准GB/T3045-2017中电感耦合等离子体质谱法测定的方法,经过检测条件的优化,建立了电感耦合等离子体光谱(ICP-OES)法测定碳化硅粉末中铁、镁、钛、铝、钙、钠含量的方法,可供相关人员参考。
PART ONE实验部分
仪器与试剂
ICP-7700型电感耦合等离子体发射光谱仪;
氢氟酸;
盐酸;
碳化硅样品。
实验条件
样品处理
称取约1.0g样品(精确至0.0001g),放入铂皿中。用少量水湿润,加氢氟酸10mL,于电炉上蒸发至干,再加氢氟酸5mL继续蒸发至干,保持30min,取下稍冷,加(1+1)盐酸15mL,于电炉上加热15min,稍冷,用中速滤纸过滤用温热的(5+95)的盐酸洗涤铂皿及残留物8次,再用超纯水洗涤滤纸及残留物8次。滤液及洗液收集于100mL容量瓶中,冷却后稀释至刻度,摇匀,待测。
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