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日本电子CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) 场发射冷冻透射电子显微镜 血红蛋白
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日本电子CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) 场发射冷冻透射电子显微镜
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日本电子SightSKY Camera 光纤耦合CMOS相机 磷脂双分子层（脂质体）TEM图像
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日本电子SightSKY Camera 光纤耦合CMOS相机 多晶硅TEM图像
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日本电子SightSKY Camera 光纤耦合CMOS相机 聚乙烯(PE)和聚丙烯(PP)树脂TEM图像
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日本电子SightSKY Camera 光纤耦合CMOS相机 可识别叶绿体和线粒体的薄膜结构
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日本电子SightSKY Camera 光纤耦合CMOS相机
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日本电子EM-09100IS 离子切片仪 最小限度的表面损伤
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日本电子EM-09100IS 离子切片仪 无需复杂的前处理
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日本电子EM-09100IS 离子切片仪 快速制备
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日本电子EM-09100IS 离子切片仪 高质量的透射电镜样品的前处理
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日本电子EM-09100IS 离子切片仪
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日本电子JEM-F200自动进样透射电镜 环保节能
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日本电子JEM-F200自动进样透射电镜 皮米样品台驱动
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日本电子JEM-F200自动进样透射电镜 高端扫描系统
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日本电子JEM-F200自动进样透射电镜 四级聚光镜系统
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日本电子JEM-F200自动进样透射电镜
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日本电子JXA-iSP200电子探针显微分析仪 EPMA快速启动
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日本电子JXA-iSP200电子探针显微分析仪 能提供无缝、舒适的分析环境
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日本电子JXA-iSP200电子探针显微分析仪 用户友好的操作
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日本电子JXA-iSP200电子探针显微分析仪 组合使用WDS和EDS
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日本电子JXA-iSP200电子探针显微分析仪
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日本电子JIB-4700F聚焦离子束双束(FIB) 图像叠加（picture overlay ）系统
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日本电子JIB-4700F聚焦离子束双束(FIB) 三维观察、三维分析
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日本电子JIB-4700F聚焦离子束双束(FIB) 利用新开发的同步检测系统
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日本电子JIB-4700F聚焦离子束双束(FIB) 高分辨率SEM观察
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日本电子JIB-4700F聚焦离子束双束(FIB)
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日本电子JXA-iHP200F 场发射电子探针显微分析仪 全自动进样系统
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日本电子JXA-iHP200F 场发射电子探针显微分析仪 地质
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日本电子JXA-iHP200F 场发射电子探针显微分析仪 材料
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日本电子JXA-iHP200F 场发射电子探针显微分析仪 金属
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日本电子JXA-iHP200F 场发射电子探针显微分析仪
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日本电子JSM-IT800超高分辨热场发射扫描电镜 磁铁矿纳米颗粒
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日本电子JSM-IT800超高分辨热场发射扫描电镜 磁性材料
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日本电子JSM-IT800超高分辨热场发射扫描电镜 介孔二氧化硅
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日本电子JSM-IT800超高分辨热场发射扫描电镜 石墨烯
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日本电子JSM-IT800超高分辨热场发射扫描电镜
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日本电子JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜 强大的冷场发射电子枪HyperCF300
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日本电子JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜 大范围的加速电压设置
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日本电子JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜 分辨率达到了63pm
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日本电子JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜 JEOL自主研发的球差校正器
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日本电子JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜
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日本电子JEM-3200FS 场发射透射电子显微镜 新型测角台
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日本电子JEM-3200FS 场发射透射电子显微镜 可以编程操作和附件的集中控制
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日本电子JEM-3200FS 场发射透射电子显微镜 镜筒内置式Ω型能量过滤器
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日本电子JEM-3200FS 场发射透射电子显微镜 配备了zei高加速电压为300kV的场发射电子枪
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日本电子JEM-3200FS 场发射透射电子显微镜
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日本电子EM-05500TGP TEM断层扫描系统 Visualizer-Kai
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日本电子EM-05500TGP TEM断层扫描系统 Composer
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日本电子EM-05500TGP TEM断层扫描系统 Recorder
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