日本电子JEM-F200自动进样透射电镜 皮米样品台驱动

高端扫描系统

JEM-F200可以实现大视野的STEM-EELS分析，该设备在常规的照明系统的电子束扫描功能之上，增加了新的扫描系统-“Advanced Scan System” 即成像系统的电子束扫描功能（选配）。

皮米样品台驱动

JEM-F200 采用能以皮米级步长移动样品台的Pico stage drive（不用压电驱动），能在宽动态范围移动视野-从样品的整个栅网视野移动到原子级图像视野移动都能进行。

SpecPorter（自动插入和拔出样品杆的装置）

插入和拔出样品杆，对电镜初学者来说一直是高难度的操作。 JEM-F200配备的SpecPorter，即使新手也能轻松掌握，将样品杆安装在指定的位置上，只用一个按钮即能安全地插入或拔出。

改进的冷场发射电子枪

JEM-F200能安装高稳定性、高亮度和高能量分辨率的冷场发射电子枪（选配），该枪的利用可以进行EELS化学结合状态分析，高亮度的电子束缩短了分析时间，并且还降低了来自光源的色差，实现了高分辨率的观察。

双能谱（SDD）

JEM-F200能同时安装两个大口径、分析灵敏度高的硅漂移检测器（SDD）（选配件）。 凭借更高的灵敏度，EDS分析速度更快，对样品的损伤更小。

环保节能

JEM-F200是第一个标配了ECO模式的透射电子显微镜。ECO模式系统能将能源消耗降低到正常模式时的1/5，可以在装置不运行时，以最小的能耗保持着电镜的最佳条件。该设备具有排程功能，能在指定的时间将电镜从ECO模式恢复到工作状态。

外观设计精炼

精炼的外型，全新的视觉感受。
为分析型电镜全新设计的GUI，使操作更加直观方便。
JEOL长年积累的丰富经验在设计上得到了充分的体现，与旧机型相比，电镜的机械性和电气稳定性都得到了很大的提高。

四级聚光镜系统

现在的电子显微镜需要支持范围广泛的成像技术--- 从明场/暗场的TEM成像到使用各种检测器的STEM技术。 该设备采用新型四级聚光镜照射光学系统-“Quad-Lens condenser system”，通过分别控制电子束强度和汇聚角，能满足各种研究的需求。

[分辨率]
STEM	0.16 nm (200 kV)
TEM (晶格, 点)	0.19 nm (200 kV)
	0.10 nm (晶格, 200 kV)
[放大倍率]
STEM	x 20,000 ～ x 200,000,000
TEM	x 200 ～ x 1,500,000
[电子源]
电子源	热场或冷场
加速电压*2	800, 200 kV
[稳定度]
加速电压	≦5 x 10-7/min
物镜电流	≦5 x 10-7/min
[样品系统]
样品台 (测角仪)	全对中样品台
样品尺寸	3 mmφ
最大倾斜角	±90度
行程范围 (mm)	X, Y: ±1 Z:±0.2
[选配] *4

*1 : 如有特殊要求请另行咨询。
*2 : 其它加速电压, 请另行咨询。
*3 : 该角度高度依赖于样品架的物理尺寸. 请另行咨询。
*4 : 如有特殊要求请另行咨询

JEM-F200 场发射透射电子显微镜

以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜，不仅提高了空间分辨率和分析性能，还采用了新的操作系统可满足多种使用途径，易用性强，外观设计精炼，能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。

日本电子JEM-F200自动进样透射电镜 皮米样品台驱动由日本电子株式会社(JEOL) 为您提供，如您想了解更多关于日本电子JEM-F200自动进样透射电镜 皮米样品台驱动报价、参数等信息 ，欢迎来电或留言咨询。