日本电子JXA-iSP200电子探针显微分析仪 用户友好的操作

EPMA快速启动

点击任何一点，就能开始预设的EDS定性、定量分析或WDS分析。

用户菜单（User recipes）

能保存或调用经常使用的各种不同类型的样品分析条件，菜单中包括了全部的电子光学参数、EDS和WDS参数在内。

EDS 的性能

数字化脉冲处理器

全谱面分布(WD/ED, 样品台和电子束扫描)

无风扇SDD (选配)

技术规格：

检测元素范围WDS：(Be)*1 /B～U, EDS：B～U

X射线检测范围WDS检测的波长范围:  0.087～9.3nm,

EDS EDS检测的能量范围:  20keV

分光谱仪数量WDS: 1～5道可选、EDS: 1台

zei大样品尺寸100mm × 100mm × 50mm（H）

加速电压0～30kV（以0.1 kV为步长）

束流电流范围10-12 ～ 10-5 A

束流电流稳定度5%/h, ±0.3%/12h（W）

二次电子分辨率6nm（W）, 5nm（LaB6）*2

（W.D. 11mm, 30kV）

扫描倍率×40 ～  ×300,000（W. D. 11mm）

扫描图像分辨率zei大 5,120× 3,840

彩色显示器EPMA分析用: LCD 1,280 × 1,024

SEM操作、 EDS分析用:  LCD 1,280 × 1,024

光学显微镜

分辨率～1um

焦深1um

真空系统机械泵、分子泵、离子泵 *2

真空度样品室:  优于8.0 x 10-4Pa,

电子枪:  优于9.0 x 10-5Pa

JXA-iSP200 电子探针显微分析仪

可以安装通用性强、使用方便的能谱仪X射线探测器，组合使用WDS和EDS，能提供无缝、舒适的分析环境。

产品特点：

可以安装通用性强、使用方便的能谱仪X射线探测器，组合使用WDS和EDS，能提供无缝、舒适的分析环境。

日本电子新开发出的EPMA （电子探针）秉承近半个世纪的EPMA的发展历史，JXA-8230具备用户友好的操作、通过新式简单易用的PC 用户界面提供完整范围的高精度、快速分析，这是JEOL长年来对高可靠性硬件不断改良的结果。JXA-8230电子探针是下一代能完全满足多种需求的强力分析工具之一。

2020年升级为JXA-iSP200。

日本电子JXA-iSP200电子探针显微分析仪 用户友好的操作由日本电子株式会社(JEOL) 为您提供，如您想了解更多关于日本电子JXA-iSP200电子探针显微分析仪 用户友好的操作报价、参数等信息 ，欢迎来电或留言咨询。