AZtecWave结合了WDS的独特功能及EDS的速度和灵活性，可解析X射线谱峰，对微量元素和痕量元素进行定量分析。AZtec软件完全集成了EDS能谱仪和WDS波谱仪的各项操作，保证适合于所有专业水平的用户，同时Tru-Q®处理技术可保证结果的准确性。对于具有挑战的显微分析，AZtecWave能快速准确地给出答案。
提高元素识别和成分分析的准确度
微量元素的识别，测量水平低至数十ppm
轻重元素均具有优异的性能
在所有浓度水平上准确测定元素的成分
在AZtec平台中，完全集成了EDS和WDS分析的工作流程
利用来自EDS和SEM的实时输入，优化WDS设置，确保获得准确结果
概述
提高元素识别和成分分析的准确性，如某些元素谱峰在EDS谱图中有明显重叠
微量元素的识别和测量水平低至数十ppm
对所有浓度水平的元素进行准确定量
用能谱仪 (EDS) 测量常量元素，用WDS测量谱峰严重重叠或痕量元素
解决冶金、电子、矿物学/地质学、陶瓷、法医学和核能发电各行业成分表征的挑战
在AZtec平台中，完全集成了EDS和WDS分析的工作流程
新技术利用了EDS和SEM端的实时数据输入而优化WDS设置，确保在很短的采集时间内为所有级别的用户提供出色的结果
独特的三路控制，在采集前优化束流，采集时间和精度
有经验的用户也可手动控制
EDS和SEM信息自动采集并优化设置：
采集时间
线系
衍射晶体
背景位置
EDS采集参数
EDS探测器位置
牛津仪器波谱仪AZtecWave令扫描电镜也可实现电子探针的功能
针对所有能量进行了优化，这意味着始终可用推荐的X射线线系进行分析
可区分包括过渡金属K线在内的所有常见重叠的元素线系
在较短的采集时间和低束流条件下可获得极低的检测限
与AZtecLive EDS软件和技术无缝集成
Tru-Q技术使得EDS在高达400,000cps计数率条件下提供电子探针级定量精度
特征
波谱的设置导航式的工作流程指导您逐步完成波谱仪的参数设置和性能检查
专为经验不足的用户设计
确保安全操作
提供快速系统设置
保证极优性能
在有需要时生成性能测试报告（例如认证时）
EDS和WDS联合采集和定量分析的专用工作流程
利用EDS进行样品分析位置确认，并自动优化所有EDS和WDS采集参数
“采集时间线”在采集设置期间估计WDS采集时间，并显示采集期间波谱仪的状态
进阶选项包括在分析中添加额外的WDS采集或添加现有的EDS谱图
专用“计算组合”步骤可用于查看和检查来自于单个或多个WDS采集的定量结果
合成WDS谱图可将EDS谱图数据转换成高分辨率、高峰背比结果以检查X射线的谱峰重合、线系能量和背景
标准化
导航条工作流程，确保使用标准样品对系统进行校准，以便获得准确的结果
自动优化采集条件
预置牛津仪器42和56元素标样成分及位置信息，便于导航和快速设置
束流测量与EDS计数率的关联，可用于计算非归一化的EDS-WDS结果
软件
| AZtecWave | |
| 谱仪设置 | ✔ |
| 定量分析 | ✔ |
| 图像配准及导航 | ✔ |
| 标准化 | ✔ |
| 引导式样品交换及谱仪器关闭 | ✔ |
| WDS谱图模拟 | ✔ |
| WDS采集时间线 | ✔ |
| 利用EDS结果信息自动进行参数设置 | ✔ |
| 三路控制方式束流测量/采集时间/精度 | ✔ |
| 定量谱图扫描 | INCA Wave |
| WDS元素面分布 | INCA Energy+ (optional) |
WDS尤其适用于需要对微量元素、有重叠峰元素进行准确定量的固体样品，这类样品广泛存在于冶金、地质、电子、半导体、刑事侦缉以及能源领域。通过AZtecWave，将WDS与EDS技术相结合，能够在SEM中为固体样品提供一个全方位、兼顾速度和准确性的元素、成分分析系统。
Flier: AZtecWave
使用WDS进行定性谱图扫描，确认元素谱峰存在与否
对所有X-ray线系实现优异的谱峰剥离
对痕量元素及谱峰重叠元素进行准确的X-ray元素面分布
使用INCA Automated+，实现无人值守大面积EDS及WDS分析
AZtecWave由牛津仪器科技（上海）有限公司 为您提供，如您想了解更多关于AZtecWave报价、参数等信息 ，欢迎来电或留言咨询。
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