低温-聚焦离子束显微镜（Cryo-FIB）的提取功能可以在经第三方低温系统冷却至-180°C的样品上操作。通过结合低温-透射电子显微镜（Cryo-TEM）或低温-原子探针(cryo-atom probe)可以拓展纳米分析的样品类型和应用领域 。
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