产品名称：PILATUS3 R CdTe-瑞士DECTRIS混合像素光子计数X射线探测器
品牌：德科特思（DECTRIS）
产地：瑞士
1、产品特点：
PILATUS3 R CdTe系列结合了无噪声单光子计数的优点和在大型碲化镉（CdTe）传感器中直接检测硬X射线的优点。
与闪烁体的检测器相比，混合像素中的直接检测产生更锐利的信号和更好的空间分辨率。 CdTe为Mo，Ag和In辐射提供接近100％的吸收效率。结合无噪声单光子计数，这将实验室中的X射线检测带入了一个新的灵敏度和准确度水平。
实验室中的X射线源，尤其是硬X射线的X射线源比同步加速器弱得多，因此需要较长的曝光时间并导致较弱的信号，由于没有暗电流和读出噪音，PILATUS3 R探测器超过了实验室的所有其他技术。单光子计数不含所有其他噪声源以及CMOS电容检测器内置的不准确性，例如复位噪声和非线性电荷响应。相反，由DECTRIS Instant Retrigger Technology提供了较快的计数能力，结合精确的计数率校正提供宽泛的线性范围，完全兼容所有实验室应用和先进的X射线源。具有挑战性的实验室应用（如电荷密度研究和配对分布函数分析）依靠硬辐射和具有出色信噪比的数据，PILATUS3 R CdTe探测器系列提供了高效直接探测和无噪声单光子计数的组合，并且是实验室中这些要求的更高匹配。
2、核心优势
- Mo，Ag和In量子效率> 90％
- 直接检测清晰的空间分辨率
- 没有读出噪音，也没有黑暗信号达到较高精度
- 高动态范围
- 荧光背景抑制
- 计数率
- 同步辐射级别的辐射硬度
- 免维护运行
- 高可靠性：没有容易发生故障的密封，无需冷却至室温以下
3、应用领域
- 电荷密度分析
- 对分布函数（PDF）分析
- 高分辨率化学结晶学
- 高压/高温XRD
- 关键尺寸SAXS
- 计算机断层扫描（CT）
- 无损检测（NDT）
技术参数：
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PILATUS3 R CdTe |
1M |
300K |
300K-W |
100K |
|
探测器模块数量 |
2 × 5 |
1 × 3 |
3 × 1 |
1 × 1 |
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有效面积：宽×高 [mm²] |
168.7 x 179.4 |
83.8 × 106.5 |
253.7 x 33.5 |
83.8 x 33.5 |
|
像素大小 [μm²] |
172 x 172 |
|||
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总像素数量 |
981 x 1043 |
487 × 619 |
1475 × 195 |
487 x 195 |
|
间隙宽度, 水平/垂直（像素） *每个模块之间水平间隙增加1个像素 |
7* / 17 |
- */ 17 |
7* / - |
-* / - |
|
非灵敏区 [ % ] |
7.8 |
5.7 |
1.1 |
0.2 |
|
缺陷像素 |
< 0.1% |
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帧频 [Hz] |
5 |
20 |
20 |
20 |
|
读出时间 [ms] |
7 |
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点扩散函数 |
1 pixel（FWHM） |
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计数器深度 |
20 bits（1,048,576 counts） |
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功耗 [W] |
165 |
30 |
30 |
30 |
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尺寸（WHD）[mm³] |
265 x 286 x 455 |
158 x 193 x 262 |
280 x 62 x 296 |
114 x 69 x 118 (探头) |
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重量 [kg] |
25 |
7.5 |
7.0 |
0.9（探头） |
|
模块冷却 |
水冷 |
水冷 |
水冷 |
水冷 |
|
外接触发电压 |
5V TTL |
5V TTL |
\ |
\ |
