产品名称：EIGER2 X/XE CdTe-瑞士DECTRIS混合像素光子计数X射线探测器
品牌：德科特思（DECTRIS）
产地：瑞士
产品详情：
1、产品特点：
第四代同步加速器的尖端技术：
EIGER2 X/XE CdTe探测器是为在高能量段需要高分辨率和高帧速率的科学家设计的。单个像素尺寸仅为75µm，且对能量到达100keV的光子仍有很高的量子效率。由于死时间为零，所以每帧之间不会丢失光子。两个可调的能量阈值可以同时区分荧光背景（低能阈值）并且测量高次谐波的影响（高能阈值）。计数速率高达107光子/秒/像素。EIGER2 X CdTe探测器性能优异且易于集成和操作。
2、核心优势：
– 高量子效率范围达100KeV
– 无图像延迟或余辉
– 计数速率高达107光子/秒/像素
– 双能量阈值
– 电子门控触发
– 有效面积大
3、应用领域：
– x射线衍射(单晶和粉末)
– 现场和原位技术
– 衍射显微镜和层析成像
– 漫散射和对分布函数
技术参数：
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型号 |
EIGER2 X CdTe 500K |
EIGER2 X CdTe 1M |
EIGER2 X CdTe 4M |
EIGER2 X CdTe 9M |
EIGER2 X CdTe 16M |
EIGER2 XE CdTe 9M |
EIGER2 XE CdTe 16M |
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有效面积：宽x高 [mm2] |
77.1 x 38.4 |
77.1 X 79.7 |
155.1 x 162.2 |
233.1 x 244.7 |
311.1 x 327.2 |
233.1 x 244.7 |
311.1 x 327.2 |
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像素大小 [μm2] |
75 x 75 |
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总像素数量 |
1028x512 |
1028x1062 |
2068 x 2162 |
3108 x 3262 |
4148 x 4362 |
3108 x 3262 |
4148 x 4362 |
|
间隙宽度, 水平/垂直（像素） |
-/- |
-/38 |
12 / 38 |
12 / 38 |
12 / 38 |
12 / 38 |
12 / 38 |
|
帧频* [Hz] |
2000 |
2000 |
500 |
230 |
130 |
550 |
550 |
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计数器深度 [ bit ] |
16 |
16 |
16 |
16 |
16 |
16 |
16 |
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读出时间 |
连续读数 |
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点扩散函数 |
1 pixel |
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传感器材料 |
CdTe |
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传感器厚度 [μm] |
750 |
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能量范围 [keV] |
8-100 |
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计数率 [ph/s/pixel] |
107 |
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尺寸（WHD）[mm3] |
114 x 92 x 242 |
114 x 133 x 242 |
235 x 237 x 372 |
340 x 370 x 500 |
400 x 430 x 500 |
340 x 370 x 500 |
400 x 430 x 500 |
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重量 [kg] |
3.7 |
4.7 |
15 |
41 |
55 |
41 |
55 |
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冷却方式 |
水冷（模块）/风冷（电子学） |
水冷（模块）/风冷（电子学） |
水冷（模块）/风冷（电子学） |
水冷（模块）/风冷（电子学） |
水冷（模块）/风冷（电子学） |
水冷（模块）/风冷（电子学） |
水冷（模块）/风冷（电子学） |
