JIB-4700F聚焦离子束双束(FIB)

仪器简介：

JIB-4700F是集成扫描电镜和聚焦离子束于一身高性能仪器。电子光学系统采用场发射电子枪，对进行实时研磨监控。该仪器又是一个微区观察、样品分析、微区研磨的集合体，应用范围广泛。

技术参数：

FIB 分辨率: 5nm, 30kV
 SEM分辨率: 1.2nm, 30kV   
 气体输入系统 1-3

主要特点：

监控、切割、组装和三维图像重构连续操作
 2.离子大束流，最大90nA ，加工速度超快
 3.电子大束流，最大200nA，EDS/WDS/EBSD/CL分析效率超高
 4.3D观察、3D分析 
 5.气体注入系统用于刻蚀和沉积
 6.zei大装样 150 mm
 7.气锁式样品交换
 8.六轴全对中样品台
 9.多个样品分析接口，如冷台、冷冻传输样品台等

10.可以配合本公司特殊透射电镜样品杆，加工后直接观察透射

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