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日本电子JED-2300/2300F 能谱仪   定性结果可以通过视觉、数值判断图1

日本电子JED-2300/2300F 能谱仪 定性结果可以通过视觉、数值判断

2026-01-03 22:508830询价
价格 面议
发货 北京
品牌 日本电子
产地 日本
型号 JED-2300/2300F
该产品库存不足
产品详情

产品特点:

JED-2300/2300F Analysis Station是以“图像观察和分析“ 为基本理念的TEM/EDS集成系统,通过与SEM的马达驱动样品台联动使用,可以进行大范围的观察和分析。EDS通过检测被电子束激发出的样品的特征X射线,确定样品含有的元素及成分比,可以进行微区的点分析、线分析及面分析。

JSM-6510/LA, JSM-6610A/LA 系列

可以在SEM图像上指定分析位置,开始EDS分析。

VID

将采集的X射线谱图和Visual PeakID(VID)合成的谱图进行比较,定性结果可以通过视觉、数值判断。

Play Back

Play Back (回放) 功能
用JEOL制造的EDS采集的元素面分布图,不仅保存了每一帧中各个像素点的谱图,还对每一帧中电子束形成的图像进行了存储。利用Play back功能,可以进行多角度的分析如观测谱图等随时间的变化等。测试后数据能够回放,可以观察到样品按时间顺序发生的变化,这是至今为止无法实现的。此外,利用Play Back功能还可以截取任意指定的画面。

Smile Station™ 2

Smile Station™2功能通过在多个视野上自动进行分析,生成SEM和元素面分布图的无缝蒙太奇图像,也可以在取得的视野上进行连续的元素面分布和点分析等。(专利号4175597)

Dry SD 检测器

Dry SD 检测器(SDD检测器)与传统的EDS检测器不同,不需要液氮制冷。使用快速简单,同时实现了高分辨率和高计数率处理。

JED-2300/2300F 能谱仪

JED-2300/2300F Analysis Station是以“图像观察和分析“ 为基本理念的TEM/EDS集成系统。通过与SEM的马达驱动样品台联动使用,可以进行大范围的观察和分析。 EDS通过检测被电子束激发出的样品特征X射线,确定样品含有的元素及成分比,可以进行微区的点分析、线分析及面分析。


日本电子JED-2300/2300F 能谱仪 定性结果可以通过视觉、数值判断由日本电子株式会社(JEOL) 为您提供,如您想了解更多关于日本电子JED-2300/2300F 能谱仪 定性结果可以通过视觉、数值判断报价、参数等信息 ,欢迎来电或留言咨询。

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日本电子株式会社(JEOL)

金牌会员第1年
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