Namicro-3LT采用动态法(具有专利技术)和四线法分别测量样品的Seebeck系数和电阻率。
Namicro-3LT主要是用于测试块体热电材料，包括康铜、镍、钨等金属，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等半导体及化合物，以及聚苯胺、PEDOT等高分子聚合物。
热电参数测试系统产品特点
● 拥有独立知识产权，获得多项技术专利。
● 采用动态法测量Seebeck系数，避免了传统静态测量法在温差测量方面的系统误差，测量更准确。
● 热电偶不直接和样品接触，避免出现微型热电偶断裂失效的问题 。
● 炉壳过温报警，自动断电保护。
● 友好的软件界面，操作简单，实时显示采集数据、测试状态和结果，采用智能化数据存储及处理算法。
热电参数测试系统测试实例
1、康铜样品三次测试数据与美国AIP标准数值对比
2、Namicro-3LT、ZEM-3对N型Bi2Te3测试结果对比
3、Namicro-3LT、ZEM-3对P型Bi2Te3测试结果对比
4、Namicro-3LT、ZEM-3对MgSi测试结果对比（太原理工提供样品）
热电参数测试系统技术参数
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型号 |
Namicro-3LT |
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温度范围 |
RT~800°C |
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温控方式 |
PID程序控制 |
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最大升温速率 |
50°C/min |
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真空度 |
≤50Pa |
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测试气氛 |
真空 |
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测量范围 |
泽贝克系数：S ≥ 8μV/K； 电阻率：0.1μΩ?m ~ 106KμΩ?m |
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分辨率 |
泽贝克系数：0.05μV/K； 电阻率：0.05μΩ?m |
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相对误差 |
泽贝克系数 ≤±7%，电阻率 ≤±5% |
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测量模式 |
自动 |
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样品尺寸 |
块体，长x宽：(2~5) x (2~5)，单位mm；高度：10 ~ 18mm |
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主机尺寸 |
1000 x 400 x 500，单位mm |
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重量 |
75kg |
热电参数测试系统样品要求
块体：具备平整上下端即可
若样品表面有腐蚀或氧化等杂质层覆盖，需对样品表面抛光，使材料裸露出来，保证接触良好
热电参数测试系统技术原理
即四点接触法，电流的路径如右图所示，但测量电压使用的是另外两个接触点。相比二探针法，四探针法测量电阻率有个非常大的优点——不需要校准；有时用其它方法测量电阻率时还用四探针法校准，因而测量精度更高。
注：该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证，不可用于临床诊断或治疗等相关用途
