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Tescan新品发布:CLARA™第三代超高分辨扫描电镜,赋能纳米材料表征

2026-09-0110郑大仪器仪表网

     【仪器仪表网 新品动态】2026年7月,Tescan新品发布:第三代CLARA™超高分辨扫描电镜(SEM),专为纳米尺度材料表征设计。该设备聚焦于低着陆电压下的高分辨成像,能够在不喷涂导电层的条件下,稳定表征非导电、磁性、电子束敏感及多孔等疑难样品,有效减少制样伪影,zui大限度还原样品原始状态。

第三代CLARA™超高分辨扫描电镜(SEM)

  CLARA™的核心优势在于其创新的多衬度探测架构。通过集成镜筒内探测与能量滤波背散射电子(BSE)功能,用户可在同一区域采集表面敏感、形貌、材料及近表层等多重互补信息,揭示常规成像难以捕捉的微观差异。同时,系统兼容EDS、EBSD、拉曼光谱等联用技术,并支持低真空模式,为xian进材料、微电子、失效分析等领域提供一体化分析平台。

  在操作效率方面,CLARA™搭载Tescan Essence™软件与Wide Field Optics®大视野光路,支持全景导航与高分辨成像无缝切换,配合自动聚焦、消像散及3D防碰撞模型,大幅缩短定位与采集时间。该系统既满足资深用户对高性能的需求,也通过引导式界面降低新手门槛,是科研实验室与公共测试平台进行高效、精准纳米表征的理想工具。


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