低温磁场下的微区光学测试解决方案。它支持最高达12 T磁场,低至2.8 K环境下的微区光学测试。包括荧光,荧光寿命,反射光谱,拉曼光谱,偏振分辨二次谐波,光电流,磁光克尔与反射磁圆二色。主要应用于磁性二维材料或磁性薄膜材料与器件的磁性表征,居里温度表征,表面拓扑磁结构表征,磁畴扫描成像
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