帕克 NX10 SICM 扫描离子电导显微镜 细胞生物学

 

Imaging Modes

Park offers some of the most innovative imaging modes and technology. Our True Non-Contact mode is the world’s only truly non-contact AFM scanning mode while our standard scanning mode is among the most accurate available.

True Non-Contact™ Mode

Contact Mode

Tapping Mode

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Electrical Modes

For engineers and researchers that need accurate data on conductance, sample resistance, and other electrical and topographic properties, Park offers a range of electrical scanning modes.

PinPoint™ Conductive AFM

Conductive Probe AFM

I-V Spectroscopy

Electrostatic Force Microscopy

Kelvin Probe Force Microscopy

Dynamic Contact EFM

Piezoresponse Force Microscopy

 

Piezoresponse Force Spectroscopy

QuickStep™ SCM

Scanning Capacitance Microscopy

Scanning Spreading Resistance Microscopy

Scanning Tunneling Microscopy

Photo Current Mapping

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Nanomechanical Modes

Easily measure the mechanical properties of your sample using our set of mechanical scanning modes. Each features Park System’s trademark accuracy so you always know
you’re collecting data you can rely on.

PinPoint™ Nanomechanical Mode

Force Distance Spectroscopy

Force Volume Imaging

Force Modulation Microscopy

 

Lateral Force Microscopy

Nanolithography

Nanoindentation

Spring Constant Calibration

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Special Modes

Park offers some of the most innovative imaging modes and technology. Our True Non-Contact mode is the world’s only truly non-contact AFM scanning mode while our standard scanning mode is among the most accurate available.

Scanning Thermal Microscopy

Magnetic Force Microscopy

Tunable Magnetic Field MFM

Chemical Force Microscopy

Electrochemical Microscopy

Park NX10技术参数

 

扫描器Z扫描器

柔性引导高推动力扫描器

扫描范围: 15 µm (可选30 µm)
高度信号噪声等级: 30 pm
(RMS, 0.5 kHz带宽)

 

XY扫描器

闭环控制的柔性引导XY扫描器

扫描范围: 50 µm × 50 µm
(可选10 µm × 10 µm 或 100 µm × 100 µm)

 

驱动台

Z位移台行程范围 : 25 mm (Motorized)
聚焦样品台行程范围 : 15 mm (Motorized)
XY位移台行程范围 : 20 mm x 20 mm (Motorized)

 

样品架

样品尺寸: 开放空间 up to 100 mm x 100 mm，厚度 up to 20 mm
样品重量 : < 500 g

 

光学

10倍 (0.23 N.A.)超长工作距离镜头 (1µm分辨率)
样品表面和悬臂的直观同轴影像
视野 : 480 × 360 µm (带10倍物镜)
CCD : 100万像素, 500万像素 (可选)

 

软件SmartScan™

AFM系统控制和数据采集的专用软件
智能模式的快速设置和简易成像
手动模式的高级使用和更精密的扫描控制

 

XEI

AFM数据分析软件

 

电子集成功能

4通道数字锁相放大器
弹性系数校准(热方法，可选)
数据Q控制

 

连接外部信号

20个嵌入式输入/输出端口
5个TTL输出 : EOF, EOL, EOP,调制和交流偏压

 

AFM模式
(*可选项）标准成像

真正非接触式原子力显微镜
PinPoint™ 原子力显微镜
接触式原子力显微镜
横向力显微镜 (LFM)
相位成像
轻敲式原子力显微镜

 

力测量

力-距离(F/d)光谱
力谱成像

 

介电/压电性能

静电力显微镜(EFM)
动态接触式静电力显微镜(EFM-DC)
压电力显微镜(PFM)
高压压电力显微镜*

 

机械性能

力调制显微镜(FMM)
纳米压痕*
纳米刻蚀*
高压纳米刻蚀*
纳米操纵*

 

磁学特性*

磁力显微镜(MFM)
可调制磁力显微镜

 

 

 

电性能

导电原子力显微镜(C-AFM)*
IV谱线*
扫描开尔文探针显微镜(KPFM)
扫描电容显微镜(SCM)*
扫描电阻显微镜(SSRM)*
扫描隧道显微镜(STM)*
光电流测绘 (PCM)*

 

化学性能*

功能化探针的化学力显微镜
电化学显微镜(EC-AFM)

 

原子力显微镜选项温度控制

温控台 1
  -25 °C to +170 °C
温控台 2
  Ambient to +250 °C
温控台 3
  Ambient to +600 °C

 

液体池

通用液体池
有液体/气体灌注的开放式或封闭式液体池
控温范围: 0 °C to +110 °C (in air), 4 °C to +70 °C (with liquid)
电化学池
开放式液体池

 

液下探针柄

专为在一般液体环境中成像而设计
对大多数包括酸在内的缓冲溶液具有抗腐蚀性
可在液体中进行接触式和非接触式原子力显微镜成像

 

磁场发生器

施加平行于样品表面的外部磁场
可调磁场
Range : -300 ~ 300 gauss
由纯铁芯和两个电磁线圈组成

 

Dimensions in mm

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