TESCAN 4D-STEM TENSOR 合成颗粒的纳米形态

透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope，简称TEM)，可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构，就必须选择波长更短的光源，以提高显微镜的分辨率。1932年Ruska发明了以电子束为光源的透射电子显微镜，电子束的波长要比可见光和紫外光短得多，并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比，也就是说电压越高波长越短。TEM的分辨力可达0.2nm。

TESCAN TENSOR

高度集成、旋进辅助的分析型 4D- STEM

 

TESCAN TENSOR 是一款中等加速电压、近超高真空的集成 4D-STEM， 用于多模态表征功能材料、薄膜、天然和合成颗粒的纳米形态、化学和结构特性，具有出色的4D-STEM 性能和前所未有的普遍适用性。

 

测量功能:

TESCAN TENSOR 为材料科学家、半导体研发和失效分析人员以及晶体学家提供了众多已预设的STEM、4D- STEM和断层扫描测量的参数:

Ø  STEM BF, ADF 和 HAADF 成像

Ø  STEM 晶格像

Ø  成分 (能谱分析和元素面扫)

Ø  取向 / 物相分布成像

Ø  应力分布图

Ø  虚拟 STEM

Ø  STEM 和 EDS 重构  

Ø  衍射重构

 

性能:

TESCAN 从零开始开发了全新的 TENSOR，优化了STEM 扫描的同步功能：

Ø  混合像素的直接电子衍射相机衍射成像

Ø  2个无窗EDS探测器(2个大立体角)进行快速地能谱采集

Ø  快速，旋进电子束频率高达 72kHz

Ø  一体化的静电束闸

Ø  近实时4D-STEM数据分析、处理和可视化软件(TESCAN Explore)

Ø  都集成在模块化、中高压、近超高真 (样品区域真空达到10^-6 Pa) 的肖特基场发射电子枪上

  

可用性:

TESCAN TENSOR 是一台可以像扫描电镜一样易于使用的STEM。它可以让使用者把时间花在样品分析上，而不是浪费于参数调整。新手用户只需要最少时间的训练，就能很快获得结果。有经验的用户可以使用选配的 API 开发适合自己的测量功能，并通过 HyperSpy、LiberTEM 或  y4DSTEM 等开放平台的解决方案导出 TENSOR 4D- STEM 的数据集进行离线处理。

TESCAN 4D-STEM TENSOR 合成颗粒的纳米形态由TESCAN 泰思肯（中国） 为您提供，如您想了解更多关于TESCAN 4D-STEM TENSOR 合成颗粒的纳米形态报价、参数等信息 ，欢迎来电或留言咨询。