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Helios DualBeam™扫描电子显微镜图1

Helios DualBeam™扫描电子显微镜

2020-01-10 22:0313970询价
价格 10000000.00
发货 上海
品牌 赛默飞
型号 Helios DualBeam™
产地 捷克
该产品库存不足
产品详情

Helios NanoLab DualBeam

 一直以来,Helios NanoLab 都综合采用了 FEI 的最佳电子和离子光学系统、配件和软件,能够为尖端纳米量级研究提供强大的解决方案。对于从事纳米技术前沿研究的科学家,Helios NanoLab 能让他们拓展研究边界,为材料研究开辟新的天地。 

 

借助极具价值的亚纳米 SEM 成像技术、S/TEM 超薄样本制备能力以及最精确的原型设计功能,科学家能够将 Helios NanoLab 当作理想的研究伴侣,为未来的科技进步开发创新的新材料和纳米量级器件。

Helios NanoLab 的材料科学应用

在材料科学领域,研究人员面临的挑战是持续改善目前制造的材料和设备的质量。为了实现技术进步,在纳米量级了解结构和成分细节至关重要。Helios NanoLab 设计用来以低至亚纳米量级的分辨率提供多尺度、多维度洞察,让研究人员能够观测样本最微小的细节。Helios NanoLab 还可为原子分辨率 S/TEM 成像迅速制备最高质量的样本。此外,如果研究工作包括开发 MEMS 或 NEMS 器件,也可配备 Helios NanoLab 打造全功能原型。

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赛默飞世尔科技电子显微镜

蓝钻会员第2年
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