GeminiSEM 系列产品
高对比度、低电压成像的场发射扫描电子显微镜
为对任意样品进行高水准的成像和分析而生
蔡司GeminiSEM 系列产品具有出色的探测效率，能够轻松地实现亚纳米分辨成像。无论是在高真空还是在可变压力模式下，更高的表面细节信息灵敏度让您在对任意样品进行成像和分析时都具备更佳的灵活性，为您在材料科学研究、生命科学研究、工业实验室或是显微成像平台中获取各种类型样品在微观世界中清晰、真实的图像，提供灵活、可靠的场发射扫描电子显微镜技术和方案。
GeminiSEM 450 具有出色的易用性设计、更快的响应和更高的表面灵敏度，使其能快速、灵活、可靠地对样品进行表面成像和分析，充当您的得力助手
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更高的速度与灵敏度，更好的成像和分析
GeminiSEM 450更快的响应和更高的表面灵敏度使其能快速、灵活、可靠地对样品进行表面成像和分析，简便、快速地进行EDS能谱和EBSD等分析，同时保持出色的空间分辨率，充当您的得力助手。
在EDS能谱和EBSD分析模式下仍保持高分辨率的成像，在低电压条件下工作时更为优异；
可快速地对样品进行大范围及高质量成像；
经优化的电子光学镜筒，减少了工作过程中进行重新校准的复杂流程，节省成像时间，提高工作效率；
无论是不导电样品、磁性样品或是其他类型的样品，无论是高真空或是可变压力模式，均可实现快速和高质量的成像和分析.
洞察产品背后的科技
Gemini电子光学系统
Gemini 2类型镜筒-出色的综合性能，为您所欲为
要实现对任意样品都能进行高质量的测试和表征，扫描电子显微镜必须在成像和分析方面都具备优异的性能，同时能给用户简单易用的操作体验。如今，Gemini 2镜筒可满足您在这些方面的各种需求：
GeminiSEM 450 配置双聚光镜的Gemini 2类型电子光学镜筒；
在确保获得出色的小电子束斑的同时，束流连续可调；
可在低束流的高分辨率成像与高束流的分析模式之间进行无缝切换；
调整工作参数后无需对电子束进行重新校准，为您节约时间，提高仪器效率；
操作灵活易用，高电子束能量密度下的高分辨率成像，低束流分析，高束流分析等各类不同的工作模式，一切由您而定；
物镜无漏磁设计，在大视野范围成像和EBSD分析中不会引起畸变，确保获得样品高质量的图像；
出色、稳定的电子光学镜筒，对各种类型的样品都能简单快速的进行高分辨率成像，即使在使用中样品需要倾斜，甚至是对磁性样品进行成像；
P搭载局部电荷中和器或NanoVP可变压力模式，有效地消除样品的表面荷电，让您在出色参数下对样品进行成像和分析.
技术参数：
| 基本规格 | 蔡司 GeminiSEM 450 | ||
|---|---|---|---|
| 热场发射电子枪，稳定性优于0.2 %/h | |||
| 加速电压 | 0.02 - 30 kV | ||
| 探针电流 | 3 pA - 40 nA | ||
| （100 nA或300 nA配置可选） | |||
| 存储分辨率 | 最高达32k × 24k 像素 | ||
| 放大倍率 | 12 – 2,000,000 | ||
| 标配探测器 | 镜筒内Inlens二次电子探测器 | ||
| 样品室内的Everhart Thornley二次电子探测器 | |||
可选配的 项目 | |||
| NanoVP可变压力模式 | |||
| 高效VPSE探测器（包含在NanoVP可变压力选件中） | |||
局部电荷中和器 镜筒内能量选择背散射探测器 环形STEM探测器（aSTEM 4） 角度选择背散射探测器
EBSD探测器(背散射电子衍射) | |||
| 可订制特殊功能样品台 | |||
| 环形背散射电子探测器 | |||
| 阴极射线荧光探测器 | |||
注：该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证，不可用于临床诊断或治疗等相关用途
