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布鲁克ContourGT-I 三维光学显微镜图1布鲁克ContourGT-I 三维光学显微镜图2

布鲁克ContourGT-I 三维光学显微镜

2026-05-10 22:345150询价
价格 面议
发货 北京
品牌 布鲁克
产地 美国
型号 ContourGT-I
该产品库存不足
产品详情

ContourGT-I 三维光学显微镜

全球首创的扫描头倾斜自动样品台桌面型测量系统

 

 ContourGT-I 三维光学显微镜集三十年表面测量之大成,将创新与工业界合作的经验集合到一台桌面型系统上,实现面向生产自动化需要,测量角度灵活,优秀的成像质量,和已经验证的可定标的稳定测试性能。通过布鲁克独有的扫描头倾斜技术,该系统可解决倾斜样品台测试时引起的样品位置变化,从而轻松实现在一定角度内自动倾斜对表面特征进行测量。zei新一代的Vision64™ 软件结合改进的样品台设计进一步提高了使用的方便性,更有效地提高用户的测试效率。ContourGT-I 可立刻测试各种样品,在桌面型系统上实现了以往从未有过的各种特性。

 

实现更快,更简便测量

自动光学倾斜测量头

全自动X,Y, Z样品台

自动光镜转塔,放大镜,和测试光选择

 

更灵活而稳定的防震

集成式充气式防震台

高稳定度,空间节省

 

更强大的测量和分析

简单明了,人性化的工作流程

实时自动优化测量

完整的数据分析软件包

可定制的分析报告

 

测量高效

布鲁克独有的倾斜测量头为用户提供了极大的灵活性,实现快速测量和观察。通过在在显微镜头中结合头部倾斜功能,布鲁克这一技术实现了将观察位置始终保持在焦平面处,为用户实际使用时带来了很大便利。

准确追踪和使用的简便性对于在不同表面上快速检测是至关重要的,这样在批量测试时速度也大大提高。

台阶高度准确性

这一特点结合样品台与物镜的电动控制使得Contour GT-I 成为了具有较小占地却能同时满足多种测试要求的测量平台。


业界zei方便灵活的测量方式

除上述优点外,ContourGT-I通过独有的设计直接在机台上集成防震系统,使其直接满足各种环境条件,包括工厂,实现迅速准确地测量。

这一经过严格测试的防震系统为用户提供不折不扣

的优化测试条件,从而得到重复性极佳的定量数据。

布鲁克纳米表面仪器部开通优酷视频专辑
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布鲁克纳米表面仪器部 Bruker Nano Surfaces
北京办公室北京市海淀区中关村南大街 11号光大国信大厦6层 6218室

上海办公室上海市徐汇区漕河泾开发区桂平路 418号新园科技广场 19楼

E-mail:Sales.asia@bruker-nano.com

产品咨询热线:010-5833 3252

布鲁克ContourGT-I 三维光学显微镜由布鲁克电子显微纳米分析仪器部 为您提供,如您想了解更多关于布鲁克ContourGT-I 三维光学显微镜报价、参数等信息 ,欢迎来电或留言咨询。

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