雷尼绍扫Renishaw Raman-SEM联用系统 原位测量

随着科研和材料制备技术的发展，对材料的表征手段的要求越来越高，科研人员希望一次性原位表征得到更多的样品信息，联用技术成为分析仪器发展的一大方向。雷尼绍inVia共焦显微拉曼光谱仪经过20多年的开发和优化，凭借其优异的品质和卓越的性能，已经成为市场上最可信赖的拉曼仪器。而凭借在精密机械和创新工程方面的丰富经验，以及inVia灵活的设计，已经实现拉曼技术与其他分析技术的结合，包括扫描电镜（SEM）、原子力显微镜（AFM）、共聚焦显微镜（CLSM）等等。

联用系统优势：

原位测量。无需在不同仪器之间移动样品，节约时间，保证正确的分析区域。

inVia和SEM可同时作为独立系统使用，而不会影响两者的任何性能。

得到丰富的样品信息。使用SEM记录样品的高分辨图像，并进行元素分析。增加拉曼分析样品化学信息的能力，以识别材料和非金属化合物。

还可进行光致发光（PL）和阴极射线发光（CL）光谱测试。