凭借对各种类型样品进行精确3D测量的能力，系统可提供用于质量保证和工艺控制的可靠数据。
卓越的横向分辨率
| 405纳米紫色激光和专用高数值孔径物镜可以捕捉到传统光学显微镜、白光干涉仪或红色激光显微镜难以发现的精细纹理和缺陷。 | |
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红光型（658纳米：0.26微米空间) | 微米紫光型（405纳米：0.12线和空间) | |
一致的测量值
LEXT专用物镜可精确测量采用其他方式测量会发生畸变的周边区域。
传统物镜
LEXT物镜
快速采集结果：高速扫描
该显微镜的扫描算法既可提高数据质量又可提高速度，从而缩短您的扫描时间，简化您的工作流程，zei终实现生产力的提升。
PEAK算法
VLSI标准80纳米高度样品(MPLFLN10XLEXT)
OLS5000显微镜采用了用于3D数据构建的PEAK算法。该算法可获得从低倍率到高倍率的高精度数据，并可缩短数据采集时间。
高效率工作：简单的操作程序
系统具有自动数据采集功能，因而无需进行复杂的设置调整。甚至普通用户也可以获得准确的检测结果。
灵活：可测量尺寸较大的样品
可测量zei高210毫米的样品
| OLS5000显微镜的扩展架可容纳高达210毫米的样品，而超长工作距离物镜能够测量深度达到25毫米的凹坑。 | ||
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连杆 | 刀具 | 活塞头 | |
OLS5000激光共聚焦显微镜由奥伟登光学科技（上海）有限公司 为您提供，如您想了解更多关于OLS5000激光共聚焦显微镜报价、参数等信息 ，欢迎来电或留言咨询。
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