赛默飞ARL EQUINOX Pro立式X 射线衍射仪

赛默飞ARL EQUINOX Pro立式X射线衍射仪采用θ/θ Bragg-Brentano光学设计，集成新型电控测角系统与先进光子探测技术，实现角度精度全范围优于±0.01°，分辨率FWHM<0.026°。其魔卡免维护设计支持光路与样品台快速切换无需校正，大幅提升操作效率。配备高性能探测器与丰富分析软件，可完成精准物相识别、定量分析及晶体结构解析，广泛适用于材料研发与质量控管，兼具高可靠性与易用性。