DOI（低阻金刚石薄膜）

产品名称：	DOI（低阻金刚石薄膜Diamond?on?Oxide）
产品参数：	基底尺寸： dia4"x0.5mm Si晶向：<100>±0.5° 绝缘层：SiO2 薄膜厚度：2um 氧化层：1um 电阻率：<0.1 ohm-cm
标准包装：	1000级超净室100级超净袋真空包装或者单片盒装

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