Xstress3000X射线应力分析仪根据的是布拉格原理，使用X射线来测量残余应力和残余奥氏体。这是一种传统的方法，是测量铁素体钢最理想的X射线衍射法，也适用于所有晶体材料(包括陶瓷)。
此设计主要是针对应力测量用的，非常方便，对操作者来说也很安全。用户可在测量中的任何状态下访问所有测量和测量数据。Xstress3000，既可在实验室使用，也可在户外使用，携带方便，一个人就可完成。只需要一个电源，从安装到开始测量只需10分钟左右。嵌入微软处理器和通讯连接，把主单元与计算机用一根电缆连接上，就可进行其它扩展应用。
Xstress3000X射线应力分析仪技术规格：
主控单元
在5-30kV/0-10mA 范围内自由调整。超紧凑设计
包括
-电源
-电子部件和固件控制单元
-高压发生器
-自循环液体冷却系统，不需外部供水
-确保安全所需的所有互锁装置
安全性
在敞开式X射线的防护要求上，远高于ANSI N43.4-1993和其他工业标准的规定，
控制残余压力
控制残余应力
残余奥氏体测量
实验室精度
不需切割试样
测角仪
标准的XSTRESS 3000测角仪-G3安装在一个带有磁座的三角架上。
?-倾角：可编程-60°~ +60°(标准)
?-摇摆：可编程0°~ ±6°
探测器
在?几何系统的入射线两侧对称安装了高精密度的MOS线性成像探测器
角精度：0.014°-0.057°象素
软件
Xstress3000X射线应力分析仪操作系统：Windows2000，Windows XP或Windows Vista。
注：该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证，不可用于临床诊断或治疗等相关用途
售后服务承诺
免费上门安装：是
保修期：1年
是否可延长保修期：否
保内维修承诺：免费进行现场安装和调试工作
报修承诺：协商
免费仪器保养：协商
免费培训：协商
现场技术咨询：有
