手持XRF土壤重金属分析仪

    手持式X光荧光分析仪(HHXRF)的X-MET8000系列提供进行快速的合金等级鉴定及多种材料（固体和粉末金属、聚合物、木材、溶液、土壤、矿石、矿物等）的准确化学结构分析所需的性能。 X-MET方便、耐用且使用简单，可为您提供可靠的结果。

    我们提供多种型号的产品，符合您不同应用的所有分析需要和预算。

为什么选择 X-MET 光谱仪

卓越性能

X-MET提供极好的轻元素 （镁、铝、硅、磷、硫、氯）分析，检测限度低，且可每天提供准确可靠结果。通过灵活的基本参数法(FP)法进行分析，从而测试多种材料；或若需结果可追溯和高度准确，则使用实证校准。

操作简单

大触摸屏和基于图标的用户界面，使用户只需要极少的培训便可开始操作。

符合人体工学

X-MET轻便（仅1.5公斤）、简洁、平衡性好，可供长时间使用，而疲劳度非常低。

坚固耐用而拥有成本低

符合IP54要求（等同于NEMA 3）、防水、防尘的X-MET可供室内外使用。

通过MIL-STD-810G军用耐用标准测试。

其可选的防扎窗口膜可预防在粗糙表面上测量导致探测器损坏而出现的高昂维修费用。

高级数据管理

完全灵活：可将多达100,000条结果保存在X-MET上，将报告输出到U盘或个人计算机，或自动将X-MET数据存储在LiveData云端。

应 用

手持式XRF光谱仪应用于材料可靠性鉴定

手持式XRF光谱仪应用于废旧金属回收

手持式XRF光谱仪应用于采矿

手持式XRF光谱仪应用于土壤重金属检测

手持式XRF光谱仪应用于合规性检测

手持式XRF光谱仪应用于镀层测厚

手持式XRF光谱仪应用于考古

手持式XRF光谱仪应用于贵金属和珠宝检测

比较型号

X射线管：40kV

滤光片：单一

检测器：大面积 SDD

最高样本温度：400oC

符合 IP54 等级

Thick Kapton®窗口：保护以预防探测器的窗户损坏

校准：基本参数法(FP)

内置摄像头 （可选）

X-MET8000 Optimum

X射线管：40kV or 50kV

滤光片：6位滤光转换器

检测器：大面积 SDD

最高样本温度：100oC 或通过 HERO™ 耐热窗户400oC（可选)

符合 IP54 等级

可选窗口防护罩：预防检测器的窗口损坏进行保护

校准：基本参数法 （包括轻元素分析）

内置摄像头（可选）

小光班准直器（可选）

针对所有元素（从镁到铀）进行优先分析的六位滤光片

X-MET8000 Expert

X射线管：50kV

滤光片：6位滤光转换器

检测器：大面积 SDD

最高样本温度：100oC 或通过 HERO™ 耐热窗户400oC（可选)

符合 IP54 等级

可选窗口防护罩：预防检测器的窗口损坏进行保护

校准方法：自动跳转的经验系数法（可进行追溯）

内置摄像头

小光班准直器 （可选) 

针对所有元素，从镁到铀，的优先分析的六位滤光片







注：该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证，不可用于临床诊断或治疗等相关用途