安捷伦 用于超痕量分析的自动进样器 (I-AS)

安捷伦集成自动进样器 (I-AS) 是一种清洁型带盖 ICP-MS 自动进样器，用于半导体样品的超痕量分析以及通过安捷伦 ICP-MS 系统执行的其他痕量金属应用。

I-AS 是半导体分析、小样品量以及其他涉及超痕量分析的应用的理想选择。I-AS 配备无金属探针臂、可移动的样品架盖和连续流动清洗口，专为常见实验室污染物元素的痕量分析而设计。灵活的样品盘配置和用于调谐溶液、标准品或额外清洗溶液的大容量瓶可适应各种样品分析。