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赛默飞(原FEI) Talos F200S G2 S/TEM 透射电镜 高分辨率图1赛默飞(原FEI) Talos F200S G2 S/TEM 透射电镜 高分辨率图2

赛默飞(原FEI) Talos F200S G2 S/TEM 透射电镜 高分辨率

2026-01-04 23:478980询价
价格 面议
发货 辽宁朝阳市
品牌 赛默飞
产地 捷克
型号 Talos F200S G2 S/TEM
该产品库存不足
产品详情

1927年,徳布罗意发表的论文中揭示了电子这种本认为是带有电荷的物质粒子的波动特性。TEM研究组直到1932年才知道了这篇论文,随后,他们迅速的意识到了电子波的波长比光波波长小了若干数量级,理论上允许人们观察原子尺度的物质。1932年四月,鲁斯卡建议建造一种新的电子显微镜以直接观察插入显微镜的样品,而不是观察格点或者光圈的像。通过这个设备,人们成功的得到了铝片的衍射图像和正常图像,然而,其超过了光学显微镜的分辨率的特点仍然没有得到完全的证明。直到1933年,通过对棉纤维成像,才正式的证明了TEM的高分辨率。然而由于电子束会损害棉纤维,成像速度需要非常快。

产品描述

   Thermo Scientific Talos F200S G2 200kV场发射扫描/透射电子显微镜(S/TEM)结合快速、多通道、高分辨率S/TEM 成像和精准成分分析,实现动态显微镜成像分析应用。凭借多种旨在提高吞吐量、精度和易用性的创新功能,Talos 已成为学术、政府和工业研究等各种环境下进行高级研究与分析的理想之选。

产品参数

Talos F200S G2 S/TEM

总束电流> 150 nA

探针电流  0.6 nA @ 1 nm 探针 (200 kV)

EDS系统  2 SDD无窗设计, 快门保护 

能量分辨率 ≤136 eV (Mn-Kα 和 10 kcps (输出)) 

快速EDS面分析  像素驻留时间低至10μs

X-Twin

STEM HAADF 分辨率  0.16 nm

EDX 立体角 0.45 srad

TEM 信息分辨率 0.12 nm

最大衍射角度 24 ̊

双倾样品杆的最大倾斜角度 ±35° α 倾角 /±30° β 倾角

样品台最大倾斜角度 ±90 ̊

特点与用途

领先的光学性能:恒定功率X-TWIN物镜

•最佳易用性:针对多用户环境的快速、轻松的操作参数切换
•超稳定平台:恒功率物镜、可靠的系统外壳和远程操作确保最高的稳定性
•SmartCam相机:数字搜索和查看相机可为所有应用提供较大的视场,并允许在正常房间光线下操作
•全集成快速探测器:Ceta 16M像素CMOS摄像头可以提供较大的视场和高读取速度(25 fps@512×512)
•全遥控操作:自动光阑系统与Ceta相机结合,支持全遥控操作


赛默飞(原FEI) Talos F200S G2 S/TEM 透射电镜 高分辨率由北京欧波同光学技术有限公司 为您提供,如您想了解更多关于赛默飞(原FEI) Talos F200S G2 S/TEM 透射电镜 高分辨率报价、参数等信息 ,欢迎来电或留言咨询。

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北京欧波同光学技术有限公司

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