利用亚纳米分辨率和高材料对比度进行纳米材料表征和分析。
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- 赛默飞电子显微镜（原FEI）
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赛默飞Verios 5 XHR SEM 扫描电子显微镜
2025-12-27 00:228270询价
| 价格 | 面议 |
| 发货 | 上海 |
| 品牌 | 赛默飞 |
| 产地 | 捷克 |
| 型号 | Verios™ |
| 该产品库存不足 |
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