用于 TEM 样品制备（包括 3D 表征、横截面成像和微加工）的等离子体聚焦离子束扫描电子显微镜。
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- 赛默飞电子显微镜（原FEI）
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Helios 5 PFIB DualBeam聚焦离子束扫描电子显微镜
2025-12-27 00:224090询价
| 价格 | 面议 |
| 发货 | 上海 |
| 品牌 | 赛默飞 |
| 产地 | 捷克 |
| 型号 | Helios 5 PFIB DualBeam |
| 该产品库存不足 |
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| 发货 | 上海 |
| 品牌 | 赛默飞 |
| 产地 | 捷克 |
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