用于 TEM 和 STEM 成像或原子探针断层扫描的样品制备。产品可实现先进的自动化操作,简单易用,并且能够进行高质量的亚表面 3D 表征。
- 精选
- 赛默飞电子显微镜(原FEI)
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| 价格 | 面议 |
| 发货 | 上海 |
| 品牌 | 赛默飞 |
| 产地 | 捷克 |
| 型号 | Helios 5 DualBeam |
| 该产品库存不足 |
用于 TEM 和 STEM 成像或原子探针断层扫描的样品制备。产品可实现先进的自动化操作,简单易用,并且能够进行高质量的亚表面 3D 表征。
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