理学 ZSX Primus IV波长色散型XRF 微量样品分析分析

卓越的轻元素XRF表现与倒置光学为可靠性的优越

ZSX Primus IV具有创新的光学上述配置。由于样品室的维护，再也不用担心被污染的光束路径或停机时间。光学元件以上的几何结构消除了清洁问题并延长了使用时间。ZSX Primus IV WDXRF光谱仪具有卓越的性能和分析最复杂样品的灵活性，采用30微米的管子，这是业界最薄的终端窗口管，可提供出色的轻元素（低Z）检测限。

映射和多点XRF分析

结合最先进的测绘包装来检测均匀性和包裹体，ZSX Primus IV可以对样品进行简单详细的XRF光谱测量研究，以提供其他分析方法不易获得的分析见解。可用的多点分析还有助于消除不均匀材料中的采样误差。

使用EZ-scan软件的SQX基本参数

EZ扫描允许用户在未事先设置的情况下对未知样品进行XRF元素分析。节省时间功能只需点击几下鼠标并输入样品名称。结合SQX基本参数软件，它可以提供最准确，最快速的XRF结果。SQX能够自动校正所有的矩阵效应，包括线重叠。SQX还可以校正光电子（光和超轻元素），不同气氛，杂质和不同样品尺寸的二次激发效应。使用匹配库和完美的扫描分析程序可以提高准确度。

特征

从Be到U的元素分析

ZSX指导专家系统软件

数字多通道分析仪（D-MCA）

EZ分析界面进行常规测量

管道上方的光学器件使污染问题最小化

占地面积小，使用的实验室空间有限

微量分析可分析小至500μm的样品

30μ管提供卓越的轻元素性能

映射功能的元素地形/分布

氦气密封意味着光学器件始终处于真空状态

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