理学 XtaLAB mini™ II 科研级别数据质量X射线单晶衍射仪

X射线分析的新发展，金属X射线分析由于设备和技术的普及已逐步变成金属研究和有机材料， 纳米材料测试的常规方法。而且还用于动态测量。早期多用照相法，这种方法费时较长，强度测量的精确度低。50年代初问世的计数器衍射仪法具有快速、强度测量准确，并可配备计算机控制等优点，已经得到广泛的应用。但使用 单色器的照相法在微量样品和探索未知新相的分析中仍有自己的特色。从70年代以来，随着高强度 X射线源（包括超高强度的旋转阳极X射线发生器、电子 同步加速辐射,高压脉冲X射线源）和高灵敏度探测器的出现以及 电子计算机分析的应用，使金属X射线学获得新的推动力。这些新技术的结合，不仅大大加快分析速度，提高精度，而且可以进行瞬时的动态观察以及对更为微弱或精细效应的研究。

理学新型XtaLAB mini II™台式X射线单晶衍射仪能收集到可发表质量的晶体结构数据。简单紧凑的设计使得其不但适用于单晶结构分析教学，还是合成实验室快速结构测定的优选工具。

特点：

· 像素大小为100μm的HPC检测器，背景噪音低

· 坚固且紧凑的设计，占地面积小

· 配备聚焦光学附件的Mo固定靶光源

· 与Cryostream 800低温附件兼容

· 科研级别数据质量，远超IUCr要求

· 紧凑且防故障辐射保护仓

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