透射电镜原位电学分析系统

　　简介

　　透射电镜原位电学分析系统是针对纳米尺度材料及器件的电学性能分析解决方案，适用于多种透射电镜。该系统集成了硬件和软件，支持从微安到飞安范围内的电学信号自动量化和分析。其主要优势包括低噪声放大、自动信号路由、高分辨率图像采集及快速电学分析等功能。该系统广泛应用于先进材料科学、纳米技术开发、半导体器件开发及失效分析等领域，为科研人员提供全面的电学性能分析工具。

　　透射电镜原位电学分析系统——纳米尺度原位电学成像分析解决方案

　　透射电镜原位电学分析系统在先进材料科学、纳米技术开发、半导体器件开发及失效分析中发挥着至关重要的作用，能够为研究纳米尺度材料及器件提供电学性能分析支撑。

　　该系统能够适配所有具备外部扫描控制接口的透射电镜，通过深度集成的硬件及软件协同，能够实现对所有电学信号的放大、获取及分析，每个信号均能够实现自动量化，覆盖µA/nA/pA等电流范围。

　　该系统主要技术优势

　　・采集系统兼容所有带有外部扫描接口的透射电镜(与EDS或EELS类似)

　　・所有放大和采集设置均由软件控制

　　・信号自动量化并以电流值(µA, nA, pA)显示

　　硬件设备特点

　　・快速放大优化成像

　　・宽增益范围，以适应所有技术

　　・小型化的固定式电子设备

　　・自动信号路由

　　为透射电镜原位电学样品杆设计的低噪声前置电流放大器

　　主要技术优势：

　　・zui靠近原始信号的初级放大，能大幅降低信号噪音

　　・内置电压偏压和电流补偿

　　・自动信号路由，避免放电

　　为透射电镜配备的电学分析放大器

　　主要技术优势：

　　・第二级放大以达到zui大范围

　　・出厂精确校准的增益和偏移

　　・可选锁定配置