产品性能:
少子寿命测试仪性能参数：
测量原理： QSSPC（准稳态光电导）；
少子寿命测量范围： 100 ns-10 ms；
测试模式：QSSPC,瞬态，寿命归一化分析；
电阻率测量范围： 3–600 (undoped) Ohms/sq.；
注入范围：1013-1016cm-3；
感测器范围： 直径40-mm；
测量样品规格 标准直径: 40–210 mm （或更小尺寸）；
硅片厚度范围： 10–2000 μm；
外界环境温度： 20°C–25°C；
功率要求： 测试仪: 40W， 电脑控制器：200W ，光源：60W；
通用电源电压： 100–240 VAC 50/60 Hz；
主要特点:
适应低电阻率样片的测试需要，最小样品电阻率可达0.1ohmcm
全自动操作及数据处理
对太阳能级硅片，测试前一般不需钝化处理
能够测试单晶或多晶硅棒、片或硅锭
可以选择测试样品上任意位置
能提供专利的表面化学钝化处理方法
对各道工序的样品均可进行质量监控：
硅棒、切片的出厂、进厂检查
扩散后的硅片
表面镀膜后的硅片以及成品电池
少子寿命测试仪
技术参数：
FAQ:
用途、光伏,硅片检测
包装、纸质包装
售后服务:一年保修,终身维护
用途、光伏测试
包装、纸质包装
售后服务
一年保修
注：该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证，不可用于临床诊断或治疗等相关用途
