美国Hinds 应力双折射测量系统

美国Hinds成立于1971年，凭借其专利的PEM（光弹变调制）技术研发了高稳定的应力双折射测量系统，具有目前世界上最高的精度，可用于测量以下样品的双折射(快慢轴相位差/延迟度和快轴角度).

  ?  光学器件

?  液晶玻璃基板, 液晶滤光片

?  激光晶体

?  DVDs

?  光刻机部件, 如氟化钙窗口, 融石英光学器件,光掩膜板等

?  相机镜头

?  太阳能硅片,半导体晶圆

注：该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证，不可用于临床诊断或治疗等相关用途