FLIM / FCS 时间分辨的空间分辨：
ISS 推出新一代的快速荧光寿命成像系统FLIM/PLIM。成像速度可达 20 fps （@256×256），自由选择1×1到4096×4096像元分辨率；同时获取荧光寿命成像和共焦强度成像数据，保持单分子级的检测灵敏度。
用于化学、纳米、能源、生物等学科方向，单分子、活细胞、微区成像及形貌、能级结构和能量传递特征的机理研究。满足上转换量子点及相关材料的寿命成像测试。。
ISS以整机的荧光寿命成像系统为己任，实现共焦三维扫描模块（针孔，二维振镜、压电台或自动工作台）和时间分辨模块的完美结合，提供＜100ps-100ms的全时域荧光寿命检测；同时软件融合Phasor Plots荧光寿命直读半圆规的矢量图技术，可视化、直观的提供荧光寿命分布及数值。领跑并推进荧光寿命成像数据分析进入直读时代。
ISS荧光寿命成像系统，还可以同时满足以下特殊需要：
1. 双光子的荧光寿命 FLIM/PLIM 成像；
2. 深紫外激发的荧光寿命 FLIM / PLIM 成像；
3. 红二区荧光寿命 FLIM /PLIM 成像；
4. 激光扫描大视场活体成像 FLIM /PLIM ；
5. 光谱采集及光谱成像；
6. AFM联用--活细胞工作站联用--冷冻及加热工作台联用；
7. 纳米颗粒三维跟踪；
主要功能描述：（可以选择双光子功能）
激光共焦荧光强度成像LCM；
荧光寿命成像FLIM，磷光寿命成像PLIM；
上转换荧光（寿命）成像，稀土发光（寿命）成像，延迟荧光（寿命）成像；
荧光波动成像FFS（FCS，FCCS, PCH，N&B, RICS， FLCS），FLIM-FRET成像；
单量子点发光（寿命）成像，单分子及单分子荧光共振转移成像smFRET，包括交替激发PIE成像；
稳态及瞬态偏振成像；
微区荧光光谱采集 400-1100nm；
反聚束测试；
活细胞工作站升级（含多孔板）
Prof. Joseph R. Lakowicz 实验室选择的FLIM系统
实时直读式获得荧光寿命数值及变化趋势，FRET效率分布；
选择350nm-1100nm加上900nm-1700nm波长范围检测器，2-4通道检测器，用于成像，FLIM-FRET；
可以升级无波长干扰AFM（正置或倒置），实现同区域形貌和FLIM同步测试；
紫外-可见-红外激发波长，单波长或超连续激光器；单光子或双光子的激光器；
注：该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证，不可用于临床诊断或治疗等相关用途
售后服务承诺
免费上门安装：是
保修期：2年
是否可延长保修期：是
保内维修承诺：无条件更换非耗材故障部件及维修
报修承诺：响应时间4小时
免费仪器保养：一年二次
免费培训：2人次高级培训
现场技术咨询：有
