OptoTop® 高精度纳米级三维形貌仪
设备介绍：
OptoTop®不仅可以测量材料的表面三维形貌，而且可以测量表面的颗粒度，纳米颗粒大小和粗糙度，以及复杂的表面磨耗性能。OptoTop®可满足研发、磨损分析、失效分析及工艺控制等领域的需求。
设备优点:
¤ 操作简便
¤ 高速数据采集能力
¤ 强大的数据分析能力
¤ 对各种材料和涂层进行智能测量
¤ 线性轮廓的微粗糙度值
¤ 实现2-D线性剖面，3-D显示表面轮廓及高度剖面
应用领域:
◆ 平坦、结构性及弯曲表面的粗糙度及结构分析
◆ 测量宏观和微观的几何结构
◆ 表面控制，例如滚动起伏（选购配件：移动式装置）
技术资料
| 感应度 | 白光共聚焦 | ||
| 测量范围Z* | 300µm | 1mm | 2mm |
| 解析度 Z* | 12nm | 25nm | 75nm |
| 侧向解析度 | 1.55µm | 2µm | 4µm |
| 测量感应距离 | 11mm | 12.7mm | 16.4mm |
| 测量频率 | 30 Hz, 100 Hz, 300 Hz, 1 kHzv | ||
| 标准XY轴试验范围 | 60 x 60 mm | ||
| 移动速度 | 0.1 - 10 mm/s | ||
| 标准样品台大小 | 165 x 165 mm 或定制品 | ||
注：该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证，不可用于临床诊断或治疗等相关用途
