台式Micro CT扫描仪--- inCiTe
由滑铁卢大学STAR组专利技术创造的世界上很高空间分辨率的直接转换X射线探测器具有具有 30％ 调制传递函数（MTF）和64 cycles/ mm 图形条件下 10％ 检测量子效率（DQE）。 KAImaging是滑铁卢大学衍生出来的企业，成功开发了一系列成像产品，包括X射线探测器---Reveal™，平板探测器--- Solo 35G™，X射线相机---BrillianSe™，以及台式Micro CT扫描仪--- inCiTe。
产品-1： X射线探测器---Reveal™
Reveal™是KA成像公司的便携式x射线探测仪，它使骨骼和软组织在一次x射线照射中没有运动伪影。本质上，Reveal™的工作原理类似于双能量探测器。不同之处在于探测器能够通过一次x射线拍摄来分离不同的能级。KA成像公司独特的专利技术的特点是便携式和可翻新的设计，能够同时捕获双能量图像和非常高的DQE数字放射成像(DR)图像。
产品-2： 平板探测器---Solo 35G™
Solo 35G™是一款平板探测器，它的特点是重量轻，x射线剂量低。改进的调制传递函数(MTF)和探测量子效率(DQE)提供了不妥协的图像质量。该探测器还具有快速的传输速度，通过天线设计实现2秒的图像传输，使更强的WiFi信号接收。内置的无线通信支持IEEE 802.11ac，是国际上的最 快的传输速度。
产品-3：X射线相机---BrillianSe™
非晶硒(a-Se) BrillianSe™x射线相机是用于高亮度成像。混合的a-Se/CMOS探测器使用具有高本征空间分辨率的a-Se光导体来直接将x射线光子转换成电荷。然后由低噪声CMOS有源像素传感器读出电子信号。(APS)。如果不需要首先将x射线光子转换成可见光，就像在基于间接闪烁的方法中那样，就没有必要细化转换层以最小化光散射。BrillianSe™提供了一个结合高空间分辨率使用8μm像素,侦探和高量子效率(DQE) 110 keV能量。这种组合能够在低通量和高能量下高效成像，以及基于传播(无光栅)的在线相位对比度增强，以提高成像低密度材料时的灵敏度。
产品-4：台式Micro CT扫描仪--- inCiTe
KA Imaging的台式微型CT扫描仪是市场上第 一 款X射线分析仪采用KA Imaging开发的新型高空间分辨率硒检测器技术。硒检测器的高检测效率在低X射线辐射剂量就可进行非常高速的采样。由于效率高，可以在全分辨率下获得前所未有的体积扫描速度。inCiTe微型CT扫描仪采用基于申请专利的传播相位对比法成像，可增强通常低X射线吸收的精细结构细节。相位对比法更合适成像低密度材料。此外，InCiTe 微型CT扫描仪配备了高质量的微焦X射线源，可实现无与伦比的分辨率。集成的软件控制和简化的用户界面可实现高度自动化并减少依赖操作员的交互。 inCiTe 微型CT扫描仪的尺寸和重量优化用于最小的占用空间，便于运输并方便地集成到实验室台式工作站中。
inCiTe 微型CT扫描仪适用于生物材料，聚合物复合材料和其他低密度材料。无论是临床前成像，无损检测（NDT），标本射线照相或添加剂制造材料的研究领域都可以从这项新成像技术中受益。
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台式MicroCT扫描仪--- inCiTe是首 个采用KAImaging 开发的高空间分辨率 a-Se探测器技术的商用X射 线CT扫描仪。 a-Se 探测器的高转换效率可在低X射线辐射剂量下实现非常高速的采样。基于高效率，在全分辨率成像可达到超高的体积扫描速度。另外，基于传播的相位对比法X射线成像能够达到几个数量级的改善低X射线吸收的材料的可检测性，同时没有类似基于光栅技术相位对比法的信号衰减现象。
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独特优势
这一款新型微型CT扫描仪在完备的台式系统中具有高效，高分辨率的X射线成像。
• 直接转换X射线探测器比闪烁体型探测器高出100倍
• 无光栅实时相位对比法 (phase-contrast）成像
• 高分辨率传统微CT成像
• 空间分辨率低至0.37 μma
• 快速单次扫描，3.2 mm视野，空间分辨率为0.6 μmb
• 高速处理器和图像显示硬件
相位对比法的优势
具有低X射线吸收或小吸收梯度的材料在使用常规X射线成像技术时会导致低对比度图像。然而，通过相位对比法的X射线成像后，灵敏度可大幅提高助于视化这些材料体。我们的相位对比法技术是基于X射线束的自由空间传播，将物平面处的X射线相位变化转换成图像平面中的X射线强度变化。基于传播的相位对比法X射线成像能够达到几个数量级的改善低X射线吸收的材料的可检测性。
实现检测技术
由滑铁卢大学STAR组专利技术创造的世界上最 高 空间分辨率的直接转换X射线探测器具有具有30％调制传递函数（MTF）和 64 cycles/mm图形条件下10％检测量子效率（DQE）。
应用案例-生物科学和医学
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应用案例-材料分析
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应用案例-无损测试
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技术规格
参考文献
lC. Scott, Hybrid SemiconductorDetectors for High Spatial ResolutionPhase-contrast X-ray Imaging, PhDThesis, U of Waterloo, 2019
K. Karim et al., High DoesEfficiency, Ultra-high Resolution Amorphous Selenium/CMOS Hybrid Digital X-rayImager, IEEE International Electron Devices Meeting, 2015.
注：该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证，不可用于临床诊断或治疗等相关用途
售后服务承诺
免费上门安装：是
保修期：1年
是否可延长保修期：是
保内维修承诺：免费更换配件，无人工费用
报修承诺：24小时响应，48小时到达现场
免费仪器保养：1个月1次
免费培训：2人次以上技术培训
现场技术咨询：有
