大塚电子膜厚仪FE-300

FE-300膜厚仪

产品特点

●测试范围涵盖薄膜到厚膜

●基于绝对反射率光谱分析膜厚

●结构紧凑，精度高，台式经济型

●操作简单

●非线性最小二乘法实现折射率和消光系数解析

适用范围

●多层膜

●非干涉膜

●超晶格结构

●光学薄膜（ARfilm、ITO）

●FPD（ITO、PI、PC、CF）

注：该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证，不可用于临床诊断或治疗等相关用途