F50薄膜厚度测量仪
自动化薄膜厚度绘图系统
依靠F50先进的光谱测量系统，可以很简单快速地获得zui大直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台，可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度，测试非常快速，大约每秒能测试两点。用户可以自己绘制需要的点位地图。F50系统配置高精度使用寿命长的移动平台，确保能够做成千上万次测量。
系统中预设了许多极坐标形、方形和线性的图形模式，也可以编辑自己需要的测试点。只需掌握基本电脑技术便可在几分钟内建立自己需要的图形模式。
可测样品膜层
基本上所有光滑的。非金属的薄膜都可以测量。可测样品包括：
FILMeasure软件提供两种分析模式：Sepectru-Matching 与FFT。在Spectrum-Matching模式中，您可以分析厚度 与折射率。反正，FTT模式虽然只能测量厚度，但在较厚 的薄膜厚度测量，FFT的分析能力更为健全。
选择Filmetrics的优势
• 桌面式薄膜厚度测量的全球引领者
• 24小时电话，E-mail和在线支持
• 所有系统皆使用直观的标准分析软件
附加特性
• 嵌入式在线诊断方式
• 免费离线分析软件
• 精细的历史数据功能，帮助用户有 效存储，重现与绘制测试结果
注：该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证，不可用于临床诊断或治疗等相关用途
