系统主要特点：
高效便捷的薄膜材料表征手段（nm到um薄膜测试）。
不同温度下的测量（-170 to 200℃<-可选300℃>）
样品易于制备和处理
高的测量适应性 (样品厚度，电阻率，沉积方式)
一个样品，一次同步测量即可获得所有相关参数。
适用于金属、陶瓷及有机材料。
基本测量单元 ：
测量室，真空泵，带加热器的支架，电子颊侧装置，集成锁相放大器，3w方法分析软件，计算机和应用软件。可测以下物理参数：
l -热传导系数 (稳态法/平面内方向)
r - 电阻率
s - 电导率
S - 赛贝克系数
e – 发射率
cp - 比热容
磁测量单元
可根据需求选择集成式电磁铁，可测物理参数如下：
AH - 霍尔常数
μ –迁移率
n -载流子浓度
薄膜材料性能有别于块体材料之处
- 因小尺寸和高纵横比所导致的表面效应如：边界散射和量子限域效应
*价格范围仅供参考，实际价格与配置等若干因素有关。如有需要，请拨打电话咨询（021-50550642；010-62237791）。我们定会将竭尽全力为您制定完善的解决方案。
注：该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证，不可用于临床诊断或治疗等相关用途
