【仪器仪表网 专题推荐】FLIR X-HS系列科学红外热像仪可主要应用在弹道学、无损检测、作应力图PCB和电子部件测试、辐射测量等相关行业。
FLIR X-HS系列gao端红外热像仪是一款集精密测量与广泛应用性于一体的高性能科学级设备能够在-80°C至+3000°C的宽温度范围内识别细微至0.02°C的温度变化。
FLIR X-HS系列热像仪配备了高达4TB的大容量高速固态硬盘(SSD)无损记录系统，可确保每一次红外图像采集与数据传输都能以高保真度进行长时间、不间断的保存。无遗漏、无失真。
结合其中波红外(MWIR)和长波红外(LWIR)光谱的兼容性，以及10GigE和CoaXPress(CXP)2.1的高速接口，FLIR X-HS系列热像仪不仅满足了严苛的科研需求，更成为专业人士在复杂测试场景中不可或缺的得力助手。
