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牛津仪器发布新品:BEX(Backscattered Electron X-ray)成像探测器

2023-07-2650碧水蓝天中国仪器仪表网

  【仪器仪表网 新品动态】近日,牛津仪器在丽江成功举办“心有所望 进无止境”主题牛津仪器材料分析论坛,并重磅发布了Unity新品——BEX(Backscattered Electron X-ray)成像探测器-采用了一种基于扫描电镜的革命性全新成像技术。

BEX(Backscattered Electron X-ray)成像探测器

  基于BEX成像技术,牛津仪器推出了集背散射电子和X射线探测器于一体的Unity系统。Unity的BSE传感器与常规BSE探测器相似,成像区域中更亮的部分意味着密度或平均原子序数更高;X-ray传感器则与传统成像探头不同,通过采集来自样品的特征X射线并转化为成分信息,使得Unity系统可快速生成彩色图片。来自这两个传感器的信号可智能叠加,获得易于解释的样品形貌图。通过瞬时获得样品图像,消除了样品分析过程中的主观臆断和不确定性,使操作人员更有信心地进行样品检索,极大提高分析效率。

  BEX成像技术是一项基于扫描电子显微镜(SEM)的全新成像技术,将背散射散射电子成像和X射线成像集于一体,能够在常规SEM工作条件下实现对样品形貌、晶体取向和化学成分进行同步、快速、高分辨的成像。在检索样品时BEX信号可流畅地提供包含元素信息的彩色图像,相比于传统成像技术,BEX能够提高样品检测的效率并提供更为可靠和完整的信息。


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